池田屋原裝KOSAKA小坂粗糙度測量儀PU-C產(chǎn)品介紹技術(shù)參數(shù)

KOSAKA小坂粗糙度測量儀PU-C

一、產(chǎn)品概述

KOSAKA小坂粗糙度測量儀PU-C是日本小坂研究所（KOSAKA）推出的旗艦級便攜式表面粗糙度檢測設備，專為精密制造、半導體、汽車零部件及科研領(lǐng)域設計。該儀器采用模塊化觸針傳感器設計，支持快速更換探針，適應深孔、細孔及復雜曲面測量需求，其核心優(yōu)勢在于將測量精度與操作便捷性結(jié)合，成為微觀形貌檢測工具。

二、核心特點

1. ?模塊化傳感器設計?
   PU-C采用可插拔式觸針傳感器，用戶可根據(jù)工件特征（如孔徑、曲率）選擇不同規(guī)格探針，無需返廠校準。例如，針對6mm細孔測量，可搭配極細檢出器實現(xiàn)61mm深度檢測，而傳統(tǒng)設備需定制專用夾具。

2. ?高精度直動式測量系統(tǒng)?
   傳感器采用直動式差動變壓器原理，消除傳統(tǒng)杠桿結(jié)構(gòu)帶來的機械誤差。在Ra=3μm標準工況下，重復性誤差≤±3%，可識別0.025nm級表面起伏，滿足半導體晶圓、光學鏡片等超精密表面的檢測需求。

3. ?智能環(huán)境適應性?
   內(nèi)置溫度補償與振動抑制算法，在車間振動或溫濕度波動環(huán)境下仍能保持數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。配備彩色CCD定位系統(tǒng)，支持320倍放大實時觀察測量區(qū)域，避免誤觸。

4. ?全場景兼容性?
   支持ISO、JIS、DIN等12種國際標準，可同時輸出Ra、Rz、Rq等32個參數(shù)。其輕量化設計（整機重量≤1.2kg）配合磁吸底座，可快速部署于機床、流水線或?qū)嶒炇摇?/p>

三、技術(shù)參數(shù)詳解

四、應用場景

1. ?半導體制造?
   檢測晶圓切割后的邊緣毛刺，識別0.1μm級崩糙度測量儀邊缺陷，提升芯片良率。

2. ?汽車發(fā)動機?
   測量缸體珩磨后的交叉網(wǎng)紋粗糙度，優(yōu)化燃油密封性，降低機油消耗。

3. ?醫(yī)療器械?
   評估人工關(guān)節(jié)表面的Ra值，確保植入物與骨骼的生物相容性。

4. ?科研領(lǐng)域?
   在材料表面改性研究中，量化激光拋光后的納米級波紋度變化。

五、操作流程

1. ?探針選擇?：根據(jù)工件材質(zhì)（金屬/陶瓷/高分子）匹配測定力，避免劃傷表面。

2. ?定位校準?：使用CCD系統(tǒng)定位測量區(qū)域，啟動自動調(diào)平功能。

3. ?數(shù)據(jù)采集?：一鍵啟動測量，系統(tǒng)自動過濾環(huán)境噪聲，生成輪廓曲線。

4. ?報告生成?：通過配套軟件導出PDF報告，包含ISO標準參數(shù)與3D形貌圖。

六、競爭優(yōu)勢

相較于競品，PU-C在三個維度實現(xiàn)突破：

• ?精度?：直動式傳感器較杠桿式精度提升40%

• ?效率?：模塊化設計使探針更換時間從15分鐘縮短至30秒

• ?成本?：通過智能校準延長傳感器壽命，降低年均維護費用30%