SANKO三高 X射線熒光涂層厚度測(cè)試儀 EX-731 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡(jiǎn)便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測(cè)量。

SANKO三高 DMC-211 高穩(wěn)定性渦流測(cè)厚儀 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡(jiǎn)便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測(cè)量。

SANKO三高 GCT-311 電解膜涂層厚測(cè)試儀 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡(jiǎn)便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測(cè)量。

SANKO三高 電阻式涂層測(cè)厚儀 RST-231 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡(jiǎn)便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測(cè)量。

SANKO三高 SG-268 三角光澤度儀 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡(jiǎn)便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測(cè)量。